- 学部・研究科
Faculty/Graduate School - 化
- 時間割コード
Course Code - 65151
- 科目名
Course title
サブテーマ
Subtitle - 機器分析演習2
- 授業形態/単位
Term/Credits - クラス
Class -
- 春/2
- 2
- 担任者名
Instructor - 三田 文雄/川崎 英也
- 曜限
Day/Period - 月2
- 授業概要
Course Description
到達目標
Course Objectives -
授業種別 / Teaching Types
演習(対面型)
言語 / Language
日本語(Japanese)
授業概要 / Course Description
機器分析は化学の基礎および応用研究において欠くことの出来ない極めて重要なものである。分析装置の著しい進歩により高感度・高分解能分析が可能になり、ナノモル以下の極微量試料でも、化学物質の構造決定ならびに定量が可能となり、化学技術の著しい進歩につながった。本演習では、化学の研究において必要不可欠なクロマト分析、熱分析、紫外可視吸収/円偏光二色性スペクトル分析、X線分析、電気化学分析、表面分析の基礎と原理を学ぶ。授業では、クロマトグラム、スペクトルの解釈と分子情報との関連性について解説し、その後演習を実施して各分析法についての理解を深める。
到達目標 / Course Objectives
①知識・技能の観点
・有機化合物の構造決定に関するクロマト分析、熱分析、紫外可視吸収/円偏光二色性スペクトル分析、X線分析、電気化学分析、表面分析の基礎と原理を理解する。
・実際の機器分析で得られるクロマトグラム、スペクトル解析による分子構造決定法を習得する。
②思考力・判断力・表現力等の能力の観点
・機器の原理を理解し、その機器から得られる情報を解析できる。
・自分で理解したことを、口頭でわかりやすく人に説明できる。
③主体的な態度の観点
・自らの学習を振り返り、適切な改善点を挙げることができる。授業手法 / Teaching Methods
・教員による資料等を用いた説明や課題等へのフィードバック
・学生による学習のふりかえり
- 授業計画
Course Content -
授業計画 / Course Content
1. X線を用いた分析法(第1-4週)
1-1. X線回折法
1-2. 蛍光X線分析法
1-3. 表面分析法(X線光電子分光法,全反射測定法)
2. 電位差分析法(第5-6週)
3. X線を用いた分析法,表面分析法,電位差分析法に関する演習(第7週)
4. クロマトグラフィーの基礎(第8週)
5. ガスクロマトグラフィー(第9週)
6. 液体クロマトグラフィー (1)(第10週)
7. 液体クロマトグラフィー (2)(第11週)
8. 熱分析(第12週)
9. 紫外可視吸収/円偏光二色性スペクトル(第13週)
10. クロマトグラフィー・熱分析・紫外可視吸収/円偏光二色性スペクトルに関する演習(第14週)
11. 講義のまとめ,到達度の確認,講評(第15週)授業時間外学習 / Expected work outside of class
・シラバスで指定している教科書や参考書の範囲を読み、内容を把握するように予習すること。
・次回の授業範囲における専門用語の意味等を理解しておくように予習すること。
・授業資料、教科書、ノートを読み返し、授業内容の理解に努めるよう復習をすること。
・授業資料、教科書を、ノートを読み返し、理解が不十分な箇所に関しては各自参考書を調べるなどして復習をすること。
・講義中に出された課題は、次週の授業までに解いておくこと。
・講義で十分に理解できなかった課題に関して、次の授業までに解けるように復習しておくこと
・必要に応じて図書館やコモンズを活用して、学習を進めること。
- 成績評価の方法・基準・評価
Grading Policies /
Evaluation Criteria -
方法 / Grading Policies
定期試験を行わず、到達度の確認(筆記による学力確認)と平常成績で総合評価する。
最終到達度確認テスト(70%)、授業中の演習・小テスト・レポート(20%)、出席点(10%)で評価する。毎回出席を取り,正当な理由なしに4回以上欠席した者は不合格とする。基準・評価 / Evaluation Criteria・Assessment Policy
①知識・技能の観点
・テスト
・レポート
・演習
②思考力・判断力・表現力等の能力の観点
クロマトグラム、スペクトルの解釈と分子構造情報との関連性について理解できる能力
②主体的な態度の観点
・毎回の振り返りと演習による確認
- 教科書
Textbooks 庄野利之・脇田久伸 新版 入門機器分析化学 三共出版 978-4-7827-0738-8 C3043
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参考書
References 庄野 利之・脇田 久伸 入門機器分析化学演習 三共出版 978-4-7827-0405-9 C3043
長谷川 健、川﨑 英也、中原 佳夫 機器分析ハンドブック 1 有機・分光分析編 化学同人 9784759820218
前田 耕治、 安川 智之 、床波 志保 編 機器分析ハンドブック 2 高分子・分離分析編 化学同人 9784759820225
辻 幸一、藤原 学、宗林 由樹、南 秀明 機器分析ハンドブック 3 固体・表面分析編 化学同人 9784759820232
- フィードバックの方法
Feedback Method 毎回の授業で演習を実施し、理解状況と課題を明確にして学習にフィードバックする。
- 担任者への問合せ方法
Instructor Contact 毎回の講義終了時に受付ける。
- 備考
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